IET Computers & Digital Techniques出版技术论文,介绍电子和嵌入式系统的数字片上系统设计和测试的各个方面的最新研究和开发工作,包括设计自动化工具(方法、算法和架构)的开发。基于CMOS技术缩小相关问题的论文尤其受欢迎。主要面向计算机和数字系统设计与测试领域的研究人员、工程师和教育工作者。主要兴趣领域包括:设计方法和工具:CAD/EDA工具、硬件描述语言、高级和架构综合、硬件/软件协同设计、基于平台的设计、3D堆叠和电路设计、片上系统架构和IP内核、嵌入式系统、逻辑综合、低功耗设计和功耗优化。仿真、测试和验证:电气和时序仿真、基于仿真的验证、硬件/软件协同仿真和验证、混合域技术建模和仿真、后硅验证、功率分析和估计、互连建模和信号完整性分析、硬件信任和安全性、可测试性设计、嵌入式核心测试、片上系统测试、在线测试、自动测试生成和延迟测试、低功率测试可靠性、故障建模和容错。2处理器和系统结构:众核系统、通用和专用处理器、DSP应用的计算算术、算术和逻辑单元、高速缓存、内存管理、协处理器和加速器、片上系统和网络、嵌入式内核、平台、多处理器、分布式系统、通信协议和低功耗问题。嵌入式内核、FPGA、快速原型设计、自适应计算、可演化、静态和动态可重新配置和可重新编程系统、可重新配置硬件。针对可变性、功耗和老化的设计:可变性设计方法、功耗和老化感知设计、存储器、FPGA、IP组件、3D堆叠、能量收集。案例研究:新兴应用、工业设计应用和设计框架。